CTY2200磁性覆層測(cè)厚儀 采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示,具備機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷、待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn)
CTG280氧化膜測(cè)厚儀 CTG280涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭,還可滿足多種測(cè)量的需要。
CT200N兩用涂層測(cè)厚儀 CT200升級(jí)版在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,增強(qiáng)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)采用回環(huán)覆蓋方式,避免了新用戶使用時(shí)出現(xiàn)存儲(chǔ)器滿的異常。
CTG260涂層測(cè)厚儀 CTG260高精度涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法 CTG260高精度涂層測(cè)厚儀(多用型)是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量
CTG240磁性覆層測(cè)厚儀 ◇ 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV) ◇ 具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 也可用系統(tǒng)校正法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
CT200F磁性覆層測(cè)厚儀 CT200升級(jí)版在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,增強(qiáng)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)采用回環(huán)覆蓋方式,避免了新用戶使用時(shí)出現(xiàn)存儲(chǔ)器滿的異常。新增了CT200N型(渦流法),采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
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